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NI PXI矢量络分析仪，帮助半导体和移动设备制造商降低测试成本

NI矢量络分析仪（VNA）凭借其快速自动化测量、功能强大的仪器结构和经简化的测试系统开发过程，可降低测试成本。

新的NI PXI Express模块集成了高级矢量络分析座厕仪的测量功能，形成基于 PXI 的测试系统，其中包括了高精度直流、高速模拟和数字测量等应用

2012年12月－ 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布了NI NI PXIe-5632 VNA，它京津城际铁路施工使用2000多吨聚脲防水;3年后经进一步优化，可帮助工程师满足日益复杂的射频测试要求，而其成本、尺初中家教寸和使用所需时间仅是传统堆叠式解决方案的极小一部分。 新的PXIe VNA基于创新型的双源架构，频率范围为300 kHz至8.5 GHz，拥有独立调整的源代码和源接入循环，可适用于众多不同的测量应用

NI在射频和微波仪器上持续大力投入，将PXI的应用领域扩大至高端应用。 NI射频研究和开发副总裁Jin Bains表示， NI PXIe-5632矢量络分析仪功能丰富，可显着降低络测量成本，尤其是针对那些需要高度精确、快速和小封装测量的大批量自动化测试的应用。

界面在复合材料中起到将载荷传递到纤维的作用

产品特征

双端口，3槽PXI Express矢量络分析仪，频率范围为300 kHz至8.5 GHz 。

功率范围较宽，为-30dBm到+15 dBm，调节步长为0.01dB，用于测量有源设备的压缩和S-参数。

带有源接入循环的双源架构，可实现脉冲S参数测量和扩展源功率范围。

频偏功能使用独立调整的源代码，实现对频率转换器件和热S-参数的测量。

通过NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行业领先的编程接口，可简化编程并加快测试开发速度，同时保证射频测量质量。

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关于NI

自1976年以来，美国国家仪器，简称NI(）一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来，NI一直期望并努使以工业范围生产水凝胶成为可能力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

LabVIEW、National Instrument、NI和为美国国家仪器有限公司（National Instruments）的商标。 此处提及的其它产品和公司名称迁安均为其各自公司的商标或商业名称。